(2011). Modeling ellipsometry for SrTiO3 MBE epitaxial films on Si(100) / Daniel M. Potrepka.
Chicago-viite (17. p.)Modeling Ellipsometry for SrTiO3 MBE Epitaxial Films on Si(100) / Daniel M. Potrepka. 2011.
MLA-viite (9. p.)Modeling Ellipsometry for SrTiO3 MBE Epitaxial Films on Si(100) / Daniel M. Potrepka. 2011.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.