APA (7 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতি

(1990). Simultaneous recording of surface topography and conductance by atomic force microscopy / by Richard H. Deeken, Jr.

শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতি

Simultaneous Recording of Surface Topography and Conductance by Atomic Force Microscopy / by Richard H. Deeken, Jr. 1990.

M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতি

Simultaneous Recording of Surface Topography and Conductance by Atomic Force Microscopy / by Richard H. Deeken, Jr. 1990.

সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.