(1990). Simultaneous recording of surface topography and conductance by atomic force microscopy / by Richard H. Deeken, Jr.
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতিSimultaneous Recording of Surface Topography and Conductance by Atomic Force Microscopy / by Richard H. Deeken, Jr. 1990.
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতিSimultaneous Recording of Surface Topography and Conductance by Atomic Force Microscopy / by Richard H. Deeken, Jr. 1990.
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.