Anar al contingut
VuFind
Iniciar sessió
Idioma
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
Trobar
Avançada
Intrinsic point defects, impur...
Enviar aquest missatge de text
Enviar aquest missatge de text:
Intrinsic point defects, impurities, and their diffusion in silicon / Peter Pichler.
Número:
Proveïdor:
Seleccioneu transport
Cricket
T Mobile
Verizon
Virgin Mobile