Deskribapena: Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshops, SSPR 2004 and SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 : proceedings / Ana Fred [and others] (eds.).

Summary goes here

Gorde:

Xehetasun bibliografikoak
Formatua:	Liburua
Hizkuntza:	ingelesa
Gaiak:	Pattern recognition systems
Etiketak:	Etiketa erantsi Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!