Arama Sonuçları - "Ellipsometry."

  1. 1
    Kapak Resmi

    A user's guide to ellipsometry / Harland G. Tompkins.

    Baskı/Yayın Bilgisi ©1993
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  2. 2
    Kapak Resmi

    Real time optics of the growth of textured silicon films in photovoltaics : final technical report, 1 August 1999-12 August 2002 / R.W. Collins and C.R. Wronski.

    Baskı/Yayın Bilgisi 2003
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  3. 3
    Kapak Resmi

    Optimization of phase-engineered a-Si:H-based multijunction solar cells : final technical report, October 2001 - July 2005 / C.R. Wronski ... [and others].

    Baskı/Yayın Bilgisi 2006
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  4. 4
    Kapak Resmi

    Manufacturing process optimization to improve stability, yield, and efficiency of CdS/CdTe PV devices : final report, December 2004 - January 2009 / W.S. Sampath, A. Enzenroth, and...

    Baskı/Yayın Bilgisi 2009
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  5. 5
    Kapak Resmi

    Manufacturing process optimization to improve stability, yield, and efficiency of CdS/CdTe PV devices : Phase II, annual technical report, January 2006 - February 2007 / W.S. Sampa...

    Baskı/Yayın Bilgisi 2007
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  6. 6
    Kapak Resmi

    Enhancement of aviation fuel thermal stability characterization through application of ellipsometry / Samuel Tucker Browne [and others].

    Baskı/Yayın Bilgisi 2012
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  7. 7
    Kapak Resmi

    A software program for aiding the analysis of ellipsometric measurements, simple spectroscopic models J.F. Marchiando. [microform] /

    Baskı/Yayın Bilgisi 1990
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  8. 8
    Kapak Resmi

    Handbook of ellipsometry / edited by Harland G. Tompkins and Eugene A. Irene.

    Baskı/Yayın Bilgisi ©2005
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  9. 9
    Kapak Resmi

    Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings.

    Baskı/Yayın Bilgisi 1964
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  10. 10
    Kapak Resmi

    A Fortran program for analysis of ellipsometer measurements / Frank L. McCrackin.

    Baskı/Yayın Bilgisi 1969
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  11. 11
    Kapak Resmi

    Ellipsometric study of YBa₂Cu₃O₇₋x laser ablated and co-evaporated films S.A. Alterovitz [and others] ; prepared for the International Conference on Electronic Materials 1990, spon...

    Baskı/Yayın Bilgisi 1990
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  12. 12
    Kapak Resmi

    Spectroscopic ellipsometry analysis of nanoporous low dielectric constant films processed via supercritical carbon dioxide for next-generation microelectronic devices by Maslina Ot...

    Baskı/Yayın Bilgisi 2007
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  13. 13
    Kapak Resmi

    The results of an interlaboratory study of ellipsometric measurements of thin film silicon dioxide on silicon Barbara J. Belzer and David L. Blackburn. [microform] /

    Baskı/Yayın Bilgisi 1997
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  14. 14
    Kapak Resmi

    Spectroscopic ellipsometry : principles and applications / Hiroyuki Fujiwara.

    Baskı/Yayın Bilgisi ©2007
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  15. 15
    Kapak Resmi

    Modeling ellipsometry for SrTiO3 MBE epitaxial films on Si(100) / Daniel M. Potrepka.

    Baskı/Yayın Bilgisi 2011
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  16. 16
    Kapak Resmi

    Spectroscopic ellipsometry : practical application to thin film characterization / Harland G. Tompkins and James N. Hilfiker.

    Baskı/Yayın Bilgisi 2016
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  17. 17
    Kapak Resmi

    Spectroscopic ellipsometry : practical application to thin film characterization / Harland G. Tompkins and James N. Hilfiker.

    Baskı/Yayın Bilgisi 2016
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  18. 18
    Kapak Resmi

    Spectroscopic ellipsometry and reflectometry : a user's guide / Harland G. Tompkins, William A. McGahan.

    Baskı/Yayın Bilgisi ©1999
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  19. 19
    Kapak Resmi

    Study of InGaAs based MODEFET structures using variable angle spectroscopic ellipsometry S.A. Alterovitz [and others]. [microform] /

    Baskı/Yayın Bilgisi 1991
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:
  20. 20
    Kapak Resmi

    Analytic analysis of ellipsometric errors Deane Chandler-Horowitz. [microform] /

    Baskı/Yayın Bilgisi 1986
    Kitap

    Favorilerime ekle
    Kaydedildi:

Arama Araçları: